製品の概要
-
あらかじめ指定したワークの測定箇所に自動で移動し、MEMS、半導体ウェハ、電子部品の表裏パターンやアライメントマークのずれを自動測定できます。
-
円、四角、十字等のアライメントマークのエッジを自動検出し、中心座標同士のずれを測定します。
-
XYZステージ制御条件、測定条件、マップ作成、レシピ登録し、ワークの複数箇所を自動測定。
-
XYステージとワークの装着位置のずれ補正アライメント機能、測定対象を映像中心位置に移動制御する
センタリング機能を搭載。正確に移動制御し測定エラーを防ぎます。 -
オプションで広視野レンズ、サブカメラを取り付けてウェハの自動アライメント動作が可能。
用途
機能
仕様、機能
測定可能内容
光学系
|
|
鏡鏡筒
|
2個(正位、倒立)
|
対物レンズ
|
2本(5、10、20倍から選択)
|
Z軸制御
|
Zストローク:±10mm
オートフォーカス機能付 |
電動XYステージ可動範囲
|
200mm × 200mm
|
照明
|
2個、白色LED、ソフト制御
|
カメラ
|
2個(320万画素、Color/Mono)
|
PC
|
OS:Windows11 Pro
|
モニター
|
縦型液晶、表裏2映像表示
|
ソフト機能
|
表裏光軸補正
表裏レンズ倍率補正 表裏カメラ取付θ補正 表裏同時撮影、ファイリング 表裏位置ずれ自動測定、測定結果出力 電動ステージ制御、マップ作成 移動アライメント補正 測定位置センタリング機能 連続移動運転測定 表裏寸法自動測定(オプション) |
-
●ソフト、サンプルホルダーなどのカスタマイズ対応
ワーク名、ロットナンバー情報などの入力、
特殊マーク形状、パターン形状の自動測定、
位置ずれ、寸法以外の測定内容、
測定結果の出力方法など、
ソフトウェアのカスタマイズは、ご相談下さい。
お客様のワーク形状や材料に合わせたサンプルホルダ
ーの製作もご相談下さい。 -
●縦型液晶2画面表示イメージ